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TEM

CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

Microscopio Elettronico a Trasmissione JEM 2010 [200Kv]

Ditta Produttrice: Jeol  - Oxford Instruments  | Data di installazione: 2001  | Sigla dello Strumento: TEM

Configurazione Strumentale
  • Porta campioni a doppio Tilt
  • Porta campioni raffreddato a temperatura variabile
  • Catodo intercambiabile per filamento LaB6
  • GIF Gatan + Multiscan Camera 794
  • Software Digital Micrograph 3.1 su Win NT
  • Sistema per Microanalisi Oxford INCA 100
  • Telecamera Slow Scan CCD Gatan 694
  • Software Digital Micrograph 3.1 su MAC
  • Download tool per immagini DM3 (ImageJ 1.32J)

Applicazioni

La tecnica trova applicazione sia in campo biologico (ad esempio nello studio di ultra strutture cellulari ) che nella scienza dei materiali per lo studio e la caratterizzazione di microfasi ed interfacce. Particolarmente importante soprattutto nel campo delle scienze dei materiali è la possibilità di ottenere informazioni sui parametri reticolari tramite esperimenti di diffrazione elettronica ed immagini ad alta risoluzione.

  • Industria metallurgica
  • Industria biomedicale
  • Problematiche ambientali
  • Semiconduttori

Tecniche disponibili

  • TEM Immagini in campo chiaro e campo scuro in modo TEM
  • DIFF Diffrazione elettronica
  • EELS Spettroscopia elettronica per perdita di energia
  • IFTEM Filtro in energia per immagini sugli elettroni trasmessi
  • X-EDS Informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi con Z 6

Link interessanti

Downloads

  • Documentazione tecnica

Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Mauro Zapparoli
Mariangela Governatori

*: Responsabile del Laboratorio