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Microscopio a Scansione di Sonda Bruker JPK NanoWizard 4 XP NanoScience

Ditta Produttrice: Bruker  | Data di installazione: 2026  | Sigla dello Strumento: SPM Strumento in fase di installazione

Configurazione Strumentale

Microscopio SPM Bruker JPK NanoWizard 4 XP NanoScience con controller Vortis 2 e software V8

  • Scanner piezoelettrici in closed-loop nelle tre direzioni, con campo di scansione fino a 100 × 100 µm².
  • Fast imaging fino a 150 linee/s per processi dinamici su scala nanometrica.
  • Modalità Quantitative Imaging (QI) e PeakForce Tapping per mappe nanomeccaniche di elasticità, adesione e dissipazione.
  • Cella con flusso di CO2 o di altri gas e controllo della temperatura superiore a quella ambiente.
  • Configurazione per la microscopia a forza magnetica (MFM) e la Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).
  • DirectOverlay per correlare immagini di SPM e di microscopia ottica ad alta apertura numerica, in contrasto di fase e in fluorescenza.

Microscopio rovesciato a contrasto di fase e fluorescenza Nikon Eclipse TI-U con illuminatore a LED

  • Tre obiettivi:
    • Acromatico ADL 10x A.N. 0,25, distanza di lavoro 5,2 mm, Ph1.
    • Acromatico ADL LWD 20xF A.N. 0,40, distanza di lavoro 3 mm, Ph1.
    • Planfluor ELWD DM 40xC A.N. 0,60, distanza di lavoro 2,9 mm, Ph2, cover 0-2 mm.
  • Tre filtri selettivi:
    • SLCTDAPI - set filtri DAPI selettivo.
    • SLCTFITC - set filtri FITC selettivo.
    • SLCTTRITC - set filtri TRITC-CY3 selettivo.

Applicazioni

Il microscopio SPM consente la caratterizzazione morfologica e funzionale di materiali, superfici, campioni a bassa rigidezza e sistemi biologici, anche in liquido e in condizioni ambientali controllate.

  • Mappe quantitative di proprietà nanomeccaniche: elasticità, adesione, deformazione e dissipazione.
  • Studio di celle, tessuti, polimeri, materiali funzionali, semiconduttori e superfici nanostrutturate.
  • Correlazione tra microscopia ottica e SPM per l'analisi mirata delle aree di interesse.
  • Osservazione di processi dinamici con acquisizione rapida e risoluzione laterale nanometrica.

Tecniche disponibili

  • Imaging a contatto e a forza laterale (LFM).
  • Tapping con Phase Imaging e PeakForce con controllo della forza di interazione.
  • Quantitative Imaging (QI) e spettroscopia forza-distanza, con profili di movimento programmabili.
  • Microscopia a forza magnetica (MFM) e Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).
  • Fast imaging e misure in cella a gas con controllo termico.

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Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Jonathan Vinet
Mauro Zapparoli

*: Responsabile del Laboratorio