CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

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Vedi anche :  ESEM   TEM   AFM   AFM2 
Microscopio Elettronico a Scansione Nova NanoSEM 450      SEMFEG  

 

Ditta Produttrice : Fei Company  - Bruker corporation

Configurazione Strumentale Data di installazione : 2013
  • Rivelatore In-lens SE detector (TLD-SE) [ High Vacuum e Low Vacuum]
  • Rivelatore In-lens BSE detector (TLD-BSE) [ High Vacuum e Low Vacuum]
  • Rivelatore TV-rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
  • Rivelatore Retractable DBS
  • Rivelatore STEM [Tem-mode]
  • Rivelatore IR-CCD
  • Rivelatore EBIC (6-Channel Detector Amplifier)
  • Portacampioni multiplo con sistema di navigazione Nav Cam
  • Catodoluminescenza CLD KE stand-alone Centaurus
    • Detector 185-850nm
    • Detector 300-650nm
  • Sistema per microanalisi X-EDS Bruker QUANTAX-200
    • detector Xflash 6, 10mm2, 126eV
    • Analisi qualitative e quantitative
    • Mapping
    • Line&Grids
  • Sistema per analisi cristallografiche EBSD Bruker QC-200 i
    • EBSD Detector-Bruker e- Flash1000
    • Software con Quantax ICSD database

     

Immagine Laboratorio

Descrizione della tecnica

La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione (~100 A) mediante scansione di un fascio di elettroni in una piccola area del campione in esame. Tutti gli effetti che si producono nel punto di impatto del fascio possono essere utilizzati, tramite appositi rivelatori, per produrre contrasto, quindi l'immagine. Inoltre l'analisi dei raggi X prodotti permette di effettuare analisi composizionale ad alta risoluzione spaziale (microanalisi).

Le modalit di lavoro principali sono 3 :

High Vacuum - In questa modalit il Microscopio opera come un SEM tradizionale su campioni conduttivi con osservazione simultanea di segnale di elettroni secondari ( SED) e retrodiffusi ( BSE ) senza limitazioni di campo visivo.

Low Vacuum -In questa modalit il Microscopio pu operare in condizioni di basso vuoto ( <= 1.5 Torr ) con osservazione simultanea di elettroni secondari ( SED ) tramite apposito rivelatore (LFD) e retrodiffusi (BSE) senza limitazioni del campo visivo. Il processo di ionizzazione del gas permette la compensazione della carica sul campione consentendo l'osservazione di campioni non conduttori senza metallizzazione.


Applicazioni generali

Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione sia in campo biologico che nella scienza dei materiali ogni qualvolta si renda necessario visualizzare strutture a forte ingrandimento (si possono ottenere risoluzioni anche inferiori ad 1 nm). Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei materiali, la possibilit di effettuare analisi composizionale con risoluzione spaziale dell'ordine del micron.


Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria biomedicale

Problematiche ambientali

Semiconduttori, campioni ceramici e metallici

Industria alimentare


Tecniche disponibili


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Conttatti Servizio Tecnico e Applicativo
Lorenzo Guarnieri lguarnieri@it.feico.com Tel. 059-370551 Fax. -
Mirko Tutolani mtuttolani@it.feico.com Tel. 335-7250167 Fax. -
Note :

Modalit x richiesta intervento tecnico:

richiedere offerta via e-mail a Support.italy@fei.com contattare Guarnieri per la parte tecnica

Assign - Assitenza tecnica OXFORD
Alessandro Griselli a.griselli @assing.it Tel. 335 7701992 Fax. -
Note :

Modalit x richiesta intervento tecnico:

contattare Lombardo e/o Griselli

 

Conttatti Amminitrazione & Vendita
Fantini Fabio ffantini@it.feico.com Tel. 335-8269639 Fax. -
Tinti Alberto atinti@it.feico.com Tel. 335-464970 Fax. -
Note :

Modalit x invio ordini:

via e-mail Support.italy@fei.com indirizzo postale FEI Italia Srl - Viale Bianca Maria,21 20122 Milano

tel 02-45279043/0080075757500 numero verde internazionale

fax 02-45279045/0080075757501 numero verde internazionale

Assign - Vendita & amministrazione
Alessio Lombardo a.lombardo@assing.it Tel. 335 7701992 Fax. -
Anna Gori a.gori@assing.it Tel. 06 90670508 Fax. 06 90670200
Note :

Modalit x invio ordini: contattare Lombardo

*** Assing commercializza i consumabili per microscopia dell' AGAR **

Veronica Ferrari v.ferrari@assing.it tel. 06.90670409 fax 06.90670200

 

 

 

 

 

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