CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

Microscopio Elettronico a Scansione XL-30      SEM1  

 

Ditta Produttrice : Fei Company  - Oxford Instruments

Configurazione Strumentale	Data di installazione : 2001
Dismesso nel 2013 e sostituito da Nova NanoSEM 450 Sorgente al Tungsteno (dal 27/01/2010) Rivelatore elettroni secondari ( SED ) Rivelatore elettroni retrodiffusi ( BSE ) Sistema per microanalisi X-EDS Oxford INCA-350 Detector Si(Li) con finestra sottile per indagini su elementi a basso numero atomico Software ed hardware per analisi qualitative e quantitative Mapping Line&Grids Automate

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Descrizione della tecnica

La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione (~100 A) mediante scansione di un fascio di elettroni in una piccola area del campione in esame. Tutti gli effetti che si producono nel punto di impatto del fascio possono essere utilizzati, tramite appositi rivelatori, per produrre contrasto, quindi l'immagine. Inoltre l'analisi dei raggi X prodotti permette di effettuare analisi composizionale ad alta risoluzione spaziale (microanalisi).

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Applicazioni generali

Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione sia in campo biologico che nella scienza dei materiali ogni qualvolta si renda necessario visualizzare strutture a forte ingrandimento (da 10x a 100.000x). Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei materiali, è la possibilità di effettuare una analisi composizionale con risoluzione spaziale dell'ordine del micron.

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Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria biomedicale

Problematiche ambientali

Semiconduttori, campioni ceramici e metallici

Industria alimentare

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Tecniche disponibili

• SED Informazioni prevalentemente morfologiche
• BSE Informazioni prevalentemente composizionali
• X-EDS Informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi con Z >8
• Possibilità di acquisire ed elaborare immagini relative alla distribuzione di elementi all'interno di un'area (mappe)

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Links interessanti

• Electron Microscopy Yellow Pages
• Assign, vendita ed assistenza prodotti Oxford

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Downloads

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