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Vedi anche :  AFM2   SEMFEG   ESEM   TEM 
Microscopio a Forza Atomica AUTOPROBE CP      AFM  

 

Ditta Produttrice : Veeco  - 2M Strumenti

Configurazione Strumentale Data di installazione : 1995
  • Scanner da 5 e 100 µm
  • Cella per fluidi
  • Kit per misure magnetiche ed elettriche
  • Kit per misure in modulazione di forza e di fase
  • Microscopio ottico con telecamera colore per il posizionamento del campione
  • Tavolino antivibrante Newport serie SHP
  • Software di gestione PROSCAN DATA ACQUISITION per Windows 95

AFM Autoprobe CP

Descrizione della tecnica

Le varie tecniche disponibili utilizzano interazioni che si generano tra il campione ed una 'sonda' per ottenere immagini della superficie analizzata. Le immagini possono essere sia legate alla morfologia che alle proprieta' chimico-fisiche del campione. Con alcune di queste tecniche si possono ottenere immagini con risoluzioni laterali nell'ordine dell' Angstrom e risoluzioni verticali inferiori all' Angstrom.


Applicazioni generali

Questa microscopia puo' essere impiegata su campioni solidi con rugosita' superficiale non superiore a qualche um. Possono essere osservati anche campioni immersi un un liquido.


Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria dei materiali (semiconduttori, magnetici, elettrici...)

Industria dei polimeri

Industria biomedicale


Tecniche disponibili


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   Informazioni di servizio [ Visualizzabili solo allo STAFF dall'interno del CIGS ]

 

Conttatti Servizio Tecnico e Applicativo
Sandro Montecchi smontecchio@2mstrumenti.com Tel. 0187-925549 Fax. 0187-925549
Anna Valentino info@2mstrumenti.com Tel. 06-868.95.319 Fax. 06-868.95.241
Note :
Modalità x invio ordini: chiamare Anna Valentino

 

Conttatti Amminitrazione & Vendita
Stefano Pergolini spergolini@2mstrumenti.com Tel. 0721-82.05.47 Fax. 0721-83.95.46
ABC
Note : Modalità x richiesta intervento tecnico: Chiamare Stefano Pergolini

 

 

 

 

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