CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

... Attendere ... [ Login in corso ]

Vedi anche :  SEMFEG   TEM   AFM   AFM2 
Microscopio Elettronico a Scansione ESEM Quanta-200      ESEM  

 

Ditta Produttrice : Fei Company  - Oxford Instruments

Configurazione Strumentale Data di installazione : 2005
  • Rivelatore elettroni secondari (SED) [ High Vacuum ]
  • Rivelatore elettroni secondari (LFD) [Low Vacuum]
  • Rivelatore elettroni secondari (GSED) [ ESEM mode]
  • Rivelatore elettroni retrodiffusi (BSE) [ High Vacuum e Low Vacuum]
  • Rivelatore simultaneo elettroni secondari e retrodiffusi (GBSD) [ ESEM mode]
  • Rivelatore per retrodiffusi (GAD) ottimizzato per l'analisi EDS [Low-Vacuum mode]
  • Tavolino Peltier per raffreddare il campione [ -25/+55 C ]
  • Hot-Stage per esperimenti dinamici a temepratura variabile [ >=1500 C ]
  • Sistema per microanalisi X-EDS Oxford INCA-350
    • Detector Si(Li) con finestra sottile per indagini su elementi a basso numero atomico
    • Software ed hardware per analisi qualitative e quantitative
    • Mapping
    • Line&Grids
    • Automate

Immagine Laboratorio

Descrizione della tecnica

La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione (~100 A) mediante scansione di un fascio di elettroni in una piccola area del campione in esame. Tutti gli effetti che si producono nel punto di impatto del fascio possono essere utilizzati, tramite appositi rivelatori, per produrre contrasto, quindi l'immagine. Inoltre l'analisi dei raggi X prodotti permette di effettuare analisi composizionale ad alta risoluzione spaziale (microanalisi).

Le modalit di lavoro principali sono 3 :

High Vacuum - In questa modalit il Microscopio opera come un SEM tradizionale su campioni conduttivi con osservazione simultanea di segnale di elettroni secondari ( SED) e retrodiffusi ( BSE ) senza limitazioni di campo visivo.

Low Vacuum -In questa modalit il Microscopio pu operare in condizioni di basso vuoto ( <= 1.5 Torr ) con osservazione simultanea di elettroni secondari ( SED ) tramite apposito rivelatore (LFD) e retrodiffusi (BSE) senza limitazioni del campo visivo. Il processo di ionizzazione del gas permette la compensazione della carica sul campione consentendo l'osservazione di campioni non conduttori senza metallizzazione.

ESEM -In questa modalit il Microscopio pu operare in condizioni estreme di basso vuoto (<=20 Torr ) con osservazione di elettorni secondari ( SED ) tramite apposito rivelatore (GSED) con limitazioni del campo visivo ( ingrandimento minimo ~240X). ANche in questo caso, il processo di ionizzazione del gas permette una compensazione della carica sul campione consentendo l'osservazione di campioni non conduttori senza metallizzazione. La relativamente alta pressione a cui si trova il campione consente la osservazione di campioni con un alto contenuto di sostanze volatili come acqua, grassi ecc... . Raffreddando opportunamente il campione possibile lavorare in condizioni di 100% di umidit relativa. L'osservazione conteporanea di elettroni retrodiffusi possibile tramite l'utilizzo di un apposito rivelatore ( GBSD ).


Applicazioni generali

Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione sia in campo biologico che nella scienza dei materiali ogni qualvolta si renda necessario visualizzare strutture a forte ingrandimento (da 10X a 100.000X). Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei materiali, la possibilit di effettuare una analisi composizionale con risoluzione spaziale dell'ordine del micron.


Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria biomedicale

Problematiche ambientali

Semiconduttori, campioni ceramici e metallici

Industria alimentare


Tecniche disponibili


Links interessanti


Downloads

 


   Informazioni di servizio [ Visualizzabili solo allo STAFF dall'interno del CIGS ]

 

 

Conttatti Servizio Tecnico e Applicativo
Lorenzo Guarnieri lguarnieri@it.feico.com Tel. 059-370551 Fax. -
Mirko Tutolani mtuttolani@it.feico.com Tel. 335-7250167 Fax. -
Note :

Modalit x richiesta intervento tecnico:

richiedere offerta via e-mail a Support.italy@fei.com contattare Guarnieri per la parte tecnica

Assign - Assitenza tecnica OXFORD
Alessandro Griselli a.griselli @assing.it Tel. 335 7701992 Fax. -
Note :

Modalit x richiesta intervento tecnico:

contattare Lombardo e/o Griselli

 

Conttatti Amminitrazione & Vendita
Fantini Fabio ffantini@it.feico.com Tel. 335-8269639 Fax. -
Tinti Alberto atinti@it.feico.com Tel. 335-464970 Fax. -
Note :

Modalit x invio ordini:

via e-mail Support.italy@fei.com indirizzo postale FEI Italia Srl - Viale Bianca Maria,21 20122 Milano

tel 02-45279043/0080075757500 numero verde internazionale

fax 02-45279045/0080075757501 numero verde internazionale

Assign - Vendita & amministrazione
Alessio Lombardo a.lombardo@assing.it Tel. 335 7701992 Fax. -
Anna Gori a.gori@assing.it Tel. 06 90670508 Fax. 06 90670200
Note :

Modalit x invio ordini: contattare Lombardo

*** Assing commercializza i consumabili per microscopia dell' AGAR **

Veronica Ferrari v.ferrari@assing.it tel. 06.90670409 fax 06.90670200

 

 

 

 

 

CIGS - Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia - Via Campi 213/A , 41125 Modena, Tel. 059 2055228 - Fax. 059-2055600 - Partita IVA: 00427620364 - PEC: cigs@pec.unimore.it

© 2006-2016 CIGS-UniMORE     - XHTML 1.0 | CSS 2.0 | Copyright | Privacy | Misure Minime Sicurezza AgID Suggerimenti