CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

SPETTROMETRO AL PLASMA ICP-MS X Series ^II      ICPMS  

 

Ditta Produttrice : Thermo Fisher Scientific

Configurazione Strumentale

Data di installazione : 2008

Camera di nebulizzazione termostatata con dispositivo ad effetto Peltier in grado di operare da -15�C a temperatura ambiente Torcia ICP PlasmaScreen Plus Dispositivo a cella di collisione/reazione CCTED con discriminazione dell'energia cinetica Sistema di lenti Infinity in grado di garantire un basso valore di background Risoluzione variabile a controllo computerizzato compresa tra 0,2 e 1 amu Analizzatore Multicanale a 65.000 canali Range di massa 2-255 amu Velocit� di scansione migliore di 12.000 amu/sec Autocampionatore CETAC ASX 520 Sistema di ablazione laser NEW WAVE UP 213

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Descrizione della tecnica

Il modello ICP MS XSerie II è uno spettrometro di massa quadrupolare da banco con sorgente al plasma (ICP-MS) sviluppato per la determinazione di elementi in tracce in vari tipi di campioni. La sua configurazione analitica, caratterizzata da un sistema di guida del fascio ionico ad alta efficienza e un deflettore a "chicane " innovativo, accoppiato con un avanzato analizzatore quadrupolare di massa posizionato fuori asse, riduce il background a livelli mai raggiunti da un ICP-MS basato su un analizzatore quadrupolare mantenendo un eccezionale alta sensibilit�. Il sistema dispone di una tecnologia a cella di collisione/reazione (CCT^ED) con filtro di energia tramite la quale � possibile attenuare selettivamente le interferenze dovute alla presenza degli ioni poliatomici che in passato hanno limitato le prestazioni degli spettrometri di massa con analizzatore quadrupolare . Il detector � costituito da un elettromoltiplicatore a dinodi che opera simultaneamente in analogico e in conteggio di impulsi per consentire l'analisi di concentrazioni di 9 ordini di grandezza provenienti da segnali transienti. Il cuore del sistema di acquisizione dati dello spettrometro � un analizzatore multicanale ad alta velocit� (MCA) da 65000 canali che consente una visualizzazione in tempo reale dell'acquisizione dei segnali, inoltre fornisce all'operatore la possibilit� di scegliere tra una serie di modi di messa a punto del sistema, per una pi� facile ottimizzazione.

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Applicazioni generali

Questa tecnica � utilizzata principalmente per la determinazione di elementi in tracce in vari tipi di campioni, sia soluzioni provenienti da un attacco chimico che campioni solidi analizzabili tramite l'utilizzo di un sistemi di ablazione laser. I suoi principali vantaggi sono costituiti da limiti di rivelabilit� estremamente bassi (< ng/L), un ampio intervallo di linearit�, e la possibilit� di analisi multielemento in modo simultaneo.

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Applicazioni tecnologiche e industriali

Determinazione di elementi in tracce in matrici ambientali, alimentari, biologiche, geologiche

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Tecniche disponibili

• Analisi quantitativa su soluzioni mediante curva di calibrazione esterna
• Analisi quantitativa su soluzioni mediante curva di calibrazione interna mediante metodo delle aggiunte standard
• Utilizzo di standard interno per compensare la variabilit� durante la misura e variazioni nella matrice del campione
• Analisi semiquantitativa su solidi mediante curva di calibrazione esterna basata su campoioni standard costituiti dalla stessa matrice del campione

 

Sono disponibili al CIGS i seguenti Standard di calibrazione:

• INORGANIC VENTURES IV-ICPMS-71A (soluzione)
• NIST 612 (solido)
• NIST 614 (solido)

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Links interessanti

Standard NIST 612 (solido)

Standard NIST 614 (solido)

INORGANIC VENTURES IV-ICPMS-71A (soluzione)

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Downloads

• Brochure XSeriesII