CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

Microscopio Elettronico a Trasmissione Talos F200S G2      TEMFEG  

 

Ditta Produttrice : Thermo Fisher Scientific

Configurazione Strumentale

Data di installazione : 2019

Emettitore S-FEG - sorgente Schottky field emitter ad alta stabilità, brillanza e coerenza che consente di operare con tensioni di accelerazione da 20keV a 200keV sia nel modo TEM che nel modo STEM, raggiungendo una risoluzione in STEM  a 200 keV migliore di 0.19nm Lente obiettivo di tipo “Constant-Power" Goniometro 5 assi motorizzati. Con portacampioni doppio tilt i range di variazione angolare sono ±35 gradi attorno all’asse cilindrico del portacampioni (alpha) e ±30 gradi attorno all’asse perpendicolare (beta) Telecamera digitale SmartCam ad alta velocità (40 frame al secondo) che sostituisce l’osservazione diretta dello schermo fluorescente nella camera di proiezione Telecamera CETA 16M per l’imaging TEM. E’ una telecamera CMOS 4k x 4k e può raccogliere fino a 40 frames/secondo in modalità “full sensor” oppure fino a 320 frame/secondo se il sensore viene utilizzato parzialmente Detectors STEM segmentato. Il microscopio è equipaggiato con quattro rivelatori STEM che possono raccogliere simultaneamente immagini 4k x 4k nelle modalità HAADF, ADF, ABF and BF-STEM Microanalisi raggi X con due rivelatori Silicon Drift con alta efficienza di raccolta, tempi di raccolta minori sia per gli spettri che per le mappe. I rivelatori sono window-less e  rivelano gli elementi a basso numero atomico fino al Boro EELS con spettrometro Gatan Enfinium SE/976 “Lente di Lorentz” per mantenere la zona del campione libera da campi magnetici Bi-prisma per olografia, utilizzabile anche come modalità per aumentare il contrasto su campioni biologici non colorati e per l’analisi di oggetti di fase in generale

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Descrizione della tecnica

La Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM ) permette di ottenere, da un campione sufficientemente assottigliato (< 0.1 micron), immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 200 KeV) che hanno attraversato il campione e formano le immagini su appositi rivelatori: schermo fluorescente, telecamere CMOS o rivelatori a stato solido. I microscopi TEM possono essere completati da diversi "attachments" per raccogliere informazioni analitiche. Le informazioni compositive sul campione possono infatti essere ottenute utilizzando i raggi X emessi dal campione (X-EDS) oppure misurando l'energia persa dagli elettroni trasmessi nell'attraversamento del campione (EELS).

 

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Applicazioni generali

Questa tecnica trova applicazione in tutti quei settori della ricerca nei quali si vogliono ottenere informazioni morfologiche fino alla scala dei nanometri. In campo biologico possono essere studiate le strutture cellulari, tessuti, virus, ecc. Nell'ambito della scienza dei materiali le applicazioni possono riguardare materiali semiconduttori, metalli e leghe, polimeri, ecc. Nel campo delle scienze dei materiali risulta particolarmente importante la possibilità di ottenere informazioni sui parametri reticolari tramite esperimenti di diffrazione elettronica. L'osservazione di qualunque campione con la microscopia elettronica a trasmissione non può prescindere da una adeguata preparazione del campione stesso. Le procedure da utilizzare possono variare notevolmente a seconda del campioni e delle informazioni cercate.

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Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria metallurgica Industria biomedicale Problematiche ambientali Semiconduttori

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Tecniche disponibili

• TEM Immagini in campo chiaro e campo scuro da elettroni trasmessi
• STEM immagini da elettroni trasmessi ottenute dalla scansione di un fascio collimato
• DIFF Diffrazione elettronica
• EELS Spettroscopia elettronica per perdita di energia
• X-EDS Spettroscopia di raggi X in dispersione di energia

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Links interessanti

• Thermo Scientific (home page)
• Thermo Scientific (Talos F200S)
• 2M Strumenti
• Gatan
• Image J
• Thermo Scientific (tutorial)
• Electron Microscopy Tutorial
• Lezione Prof. Zaluzec

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Downloads

• TEMFEG Presentazione agli Utenti 20191015
• Preparativa TEM Presentazione agli Utenti 20191015