CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia

Microscopio a Forza Atomica Multimode Nanoscope IIIa      AFM2  

 

Ditta Produttrice : Veeco  - 2M Strumenti

Configurazione Strumentale	Data di installazione : 2007
Controller Nanoscope IIIa Scanner da 10x10 um con range verticale massimo di 2.5 micron Cella per liquidi Modulo Quadrex Misure magnetiche e di Surface Potential (Kelvin Probe) Misure in modulazione di forza e di fase Misure di FvsD puntuali e mappature di durezza/elasticita' Monoculare 45x Software di gestione NANOSCOPE IMAGE v.5.31R1 per Windows XP

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Descrizione della tecnica

Le varie tecniche disponibili utilizzano interazioni che si generano tra il campione ed una 'sonda' per ottenere immagini della superficie analizzata. Le immagini possono essere sia legate alla morfologia che alle proprieta' chimico-fisiche del campione. Con alcune di queste tecniche si possono ottenere immagini con risoluzioni laterali nell'ordine dell' Angstrom e risoluzioni verticali inferiori all' Angstrom.

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Applicazioni generali

Questa microscopia puo' essere impiegata su campioni solidi con rugosita' superficiale non superiore a qualche um. Possono essere osservati anche campioni immersi un un liquido.

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Applicazioni tecnologiche e industriali

Industria dei materiali (semiconduttori, magnetici, elettrici...) Industria dei polimeri Industria biomedicale

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Tecniche disponibili

• Contatto , NON Contatto , Tapping, Lateral force
• Microscopia con forze magnetiche e di Surface Potential (Kelvin Probe)
• Microscopia in modulazione di forza o di fase
• Microscopia con Cella per liquidi

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Links interessanti

• How AFM works.

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Downloads

• Manuale Veeco per misure di f_vs_d
• Command Reference Manual
• MultiMode SPM Instruction Manual
• SPM Training Notebook Rev-E